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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
Abr-20163D modeling of electrostatic interaction between atomic force microscopy probe and dielectric surface: impact of tip shape and cantilever contributionBoularas, A.; Baudoin, F.; Teyssedre, G.; Villeneuve-Faure, C.; Clain, StéphaneArtigoAcesso restrito UMinho
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