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https://hdl.handle.net/1822/14015
Título: | Dielectric function of nanocrystalline silicon with few nanometers (<3 nm) grain size |
Autor(es): | Losurdo, M. Giangregorio, M. M. Capezzuto, Pio Bruno, G. Cerqueira, M. F. Alves, E. Stepikhova, M. |
Palavras-chave: | Dielectric function Nanocrystalline silicon Ellipsometry |
Data: | 2003 |
Editora: | AIP Publishing |
Revista: | Applied Physics Letters |
Resumo(s): | The dielectric function of nanocrystalline silicon (nc-Si) with crystallite size in the range of 1 to 3 nm has been determined by spectroscopic ellipsometry in the range of 1.5 to 5.5 eV. ATauc–Lorentz parameterization is used to model the nc-Si optical properties. The nc-Si dielectric function can be used to analyze nondestructively nc-Si thin films where nanocrystallites cannot be detected by x-ray diffraction and Raman spectroscopy. |
Tipo: | Artigo |
URI: | https://hdl.handle.net/1822/14015 |
DOI: | 10.1063/1.1569052 |
ISSN: | 0003-6951 |
Versão da editora: | http://apl.aip.org/resource/1/applab/v82/i18/p2993_s1 |
Arbitragem científica: | yes |
Acesso: | Acesso aberto |
Aparece nas coleções: | CDF - FMNC - Artigos/Papers (with refereeing) |
Ficheiros deste registo:
Ficheiro | Descrição | Tamanho | Formato | |
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SE-SiEr-APL2003.pdf | Documento principal | 649 kB | Adobe PDF | Ver/Abrir |