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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2001Spectroscopic ellipsometry study of the layer structure and impurity content in Er-doped nanocrystalline silicon thin filmsLosurdo, M.; Cerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Alves, E.; Giangregorio, M. M.; Pinto, P.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
2009Structural and photoluminescence studies of erbium implanted nanocrystalline silicon thin filmsCerqueira, M. F.; Alpuim, P.; Filonovich, Sergej; Alves, E.; Rolo, Anabela G.; Andrês, G.; Soares, J.; Kozanecki, A.ArtigoAcesso aberto
2006Effect of the matrix on the 1.5 microm photoluminescence of Er-doped silicon quantum dotsCerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Losurdo, M.; Monteiro, T.; Soares, Manuel Jorge; Peres, M.; Neves, A.; Alves, E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
2001Elastic properties of (Ti,Al,Si) N nanocomposite filmsCarvalho, S.; Vaz, F.; Rebouta, L.; Schneider, D.; Cavaleiro, A.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
3-Jan-2006Properties of MoNxOy thin films as a function of N/O ratioBarbosa, José Gusman; Cunha, L.; Rebouta, L.; Moura, C.; Vaz, F.; Carvalho, S.; Alves, E.; Le Bourhis, E.; Goudeau, Ph.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
2001Microstructure and mechanical properties of nanocomposite (Ti,Si,Al)N coatingsCarvalho, S.; Rebouta, L.; Cavaleiro, A.; Rocha, L. A.; Gomes, J.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
Abr-2012Tuning the properties of Ge-quantum dots superlattices in amorphous silica matrix through deposition conditionsPinto, S. R. C.; Buljan, M.; Chahboun, A.; Roldan, M. A.; Bernstorff, S.; Varela, M.; Pennycook, S. J.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Molina, S. I.; Ramos, Marta M. D.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2009Structural evolution of Ti-Al-Si-N nanocomposite coatingCarvalho, S.; Rebouta, L.; Ribeiro, E.; Vaz, F.; Tavares, C. J.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
12-Set-2017Corrosion behavior of titanium oxynitrided by diffusion and magnetron sputtering methods in physiological solutionPohrelyuk, I. M.; Yaskiv, O. I.; Tkachuk, O. V.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
1-Jul-2017Optical and structural analysis of solar selective absorbing coatings based on AlSiOx:W cermetsDias, D.; Rebouta, L.; Costa, P.; Al-Rjoub, A.; Benelmeki, M.; Tavares, C. J.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Santilli, P.; Pischow, K.ArtigoAcesso aberto
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