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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
1997Photoluminescence and structure properties from mu c-Si:H and mu c-Si:H-PS samplesVentura, P. J.; Cerqueira, M. F.; Carmo, M. C.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
1999Temperature dependence of the first order Raman scattering in thin films of mc-Si:HCerqueira, M. F.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
Fev-1998Mesoscopic study of laser absorption by a transparent ceramicRibeiro, R. M.; Ramos, Marta M. D.; Stoneham, A. M.ArtigoAcesso aberto
Fev-1998Theoretical study of charge-induced defects at metal-polymer interfaceRamos, Marta M. D.; Almeida, Judite P. P.ArtigoAcesso aberto
Mai-1993Can STM be used to image molecules on surfaces?Ramos, Marta M. D.ArtigoAcesso aberto
1995Microcrystalline silicon thin films prepared by RF reactive magnetron sputter depositionCerqueira, M. F.; Andritschky, M.; Rebouta, L.; Ferreira, J. A.; Silva, M. F.ArtigoAcesso aberto
Ago-1999Atomistic modelling of interfacial bonding at metal-polymer interfaceRamos, Marta M. D.; Almeida, Judite P. P.ArtigoAcesso aberto
Nov-1994Electronic processes at interfaces involving conducting polymersRamos, Marta M. D.; Stoneham, A. M.; Sutton, A. P.ArtigoAcesso aberto
Jan-1999Study of RFe12−xMox (R =Y, Ho) compounds by neutron powder diffraction, ac susceptibility and magnetizationCampos, J. Ayres de; Ferreira, L. P.; Cruz, M. M.; Gil, J. M.; Mendes, P. J.; Ferreira, I. C.; Bacmann, M.; Soubeyroux, J.-L.; Fruchart, D.; Godinho, M.; Campos, N. Ayres deArtigoAcesso aberto
1-Jan-1999Characterization of titanium silicon nitride films deposited by PVDVaz, F.; Rebouta, L.; da Silva, R. M. C.; da Silva, M. F.; Soares, J. C.ArtigoAcesso aberto
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