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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2009Structural evolution of Ti-Al-Si-N nanocomposite coatingCarvalho, S.; Rebouta, L.; Ribeiro, E.; Vaz, F.; Tavares, C. J.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
12-Set-2017Corrosion behavior of titanium oxynitrided by diffusion and magnetron sputtering methods in physiological solutionPohrelyuk, I. M.; Yaskiv, O. I.; Tkachuk, O. V.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
1-Jul-2017Optical and structural analysis of solar selective absorbing coatings based on AlSiOx:W cermetsDias, D.; Rebouta, L.; Costa, P.; Al-Rjoub, A.; Benelmeki, M.; Tavares, C. J.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Santilli, P.; Pischow, K.ArtigoAcesso aberto
Abr-2010Functional and optical properties of Au :TiO2 nanocomposite films : the influence of thermal annealingTorrell, M.; Cunha, L.; Cavaleiro, A.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
28-Jul-2004Atomic environment and interfacial structural order of TiAlN/Mo multilayersTavares, C. J.; Rebouta, L.; Rivière, J. P.; Girardeau, T.; Goudeau, Ph.; Alves, E.; Barradas, N. P.ArtigoAcesso aberto
2008Structural study of the oxidation process and stability of NbOxNy coatingsChappé, J. M.; Carvalho, P.; Machado, A. V.; Vaz, F.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Fenker, M.; Kappl, H.ArtigoAcesso restrito UMinho
2015Electrochemical and structural characterization of nanocomposite Agy:TiNx thin films for dry bioelectrodes: the effect of the N/Ti ratio and Ag contentPedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Machado, D.; Fiedler, P.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Haueisen, J.; Vaz, F.; Fonseca, C.ArtigoAcesso restrito autor
2014Optimisation of surface treatments of TiO2:Nb transparent conductive coatings by a post-hot-wire annealing in a reducing H2 atmosphereCastro, Maria Freire Flores Vieira; Rebouta, L.; Alpuim, P.; Cerqueira, M. F.; Benelmekki, M.; Garcia, Cibeli Navarro Belletti; Alves, E.; Barradas, N. P.; Xuriguera, E.; Tavares, C. J.ArtigoAcesso restrito UMinho
15-Out-2015Study of the electrical behavior of nanostructured Ti–Ag thin films, prepared by glancing angle depositionLopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Pedrosa, P.; Martin, N.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
15-Ago-2017Characterization of magnetron sputtered sub-stoichiometric CrAlSiNx and CrAlSiOyNx coatingsAl-Rjoub, A.; Costa, P.; Rebouta, L.; Cerqueira, M. F.; Alpuim, P.; Barradas, N. P.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
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