Pesquisa avançada

.

Filtros atuais:

Usar filtros adicionais para refinar os resultados da pesquisa:

 |          

Lista de resultados: 1-10 de um total de 34 resultados (tempo de pesquisa: 0.016 segundos).
DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
Jan-2015Biotribological behavior of Ag-ZrCxN1-x coatings against UHMWPE for joint prostheses devicesVelasco, Sebastian Calderon; Sánchez-López, J. C.; Cavaleiro, Albano; Carvalho, S.ArtigoAcesso restrito UMinho
2010Development of new decorative coatings based on gold nanoparticles dispersed in an amorphous TiO2 dielectric matrixTorrell, M.; Machado, P.; Cunha, L.; Figueiredo, N. M.; Oliveira, J. C.; Louro, C.; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
2015Preparation and characterization of dye-sensitized TiO2 nanorod solar cellsLijian Meng; Hong Chen; Can Li; Santos, M. P. dosArtigoAcesso aberto
Fev-2013Study of vanadium doped ZnO films prepared by dc reactive magnetron sputtering at different substrate temperaturesMeng Lijian; Teixeira, Vasco M. P.; Santos, M. P. dosArtigoAcesso aberto
1-Jun-2013Structural modification of TiO2 nanorod films with an influence on the photovoltaic efficiency of a dye-sensitized solar cell (DSSC)Meng Lijian; Li, Can; Santos, M. P. dosArtigoAcesso aberto
Abr-2011Blocking layer effect on dye-sensitized solar cells assembled with TiO2 nanorods prepared by dc reactive magnetron sputteringMeng Lijian; Li CanArtigoAcesso aberto
Dez-2011Effect of annealing temperature on TiO2 nanorod films prepared by dc reactive magnetron sputtering for dye-sensitized solar cellsMeng Lijian; Santos, M. P. dos; Li CanArtigoAcesso restrito UMinho
2013Influence of substrate temperature and post-annealing treatment on the microstructure and electric properties of ZnO:Al thin films deposited by sputteringGarcia, Cibeli Navarro Belletti; Ariza, E.; Tavares, C. J.Artigo em ata de conferênciaAcesso restrito UMinho
24-Jul-2012Electron backscatter diffraction analysis of ZnO:Al thin filmsGarcia, Cibeli Navarro Belletti; Ariza, E.; Tavares, C. J.; Villechaise, P.ArtigoAcesso restrito UMinho
2006Raman spectra and structural analysis in ZrOxNy thin filmsMoura, C.; Carvalho, P.; Vaz, F.; Cunha, L.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto