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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
Mar-2019Compositional analysis by RBS, XPS and EDX of ZnO:Al,Bi and ZnO:Ga,Bi thin films deposited by d.c. magnetron sputteringRibeiro, J. M.; Correia, Filipe Costa; Salvador, Paulo Miguel Babo Cunha; Rebouta, L.; Alves, L. C.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Mendes, A.; Tavares, C. J.ArtigoAcesso restrito UMinho
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