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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2013Influence of stoichiometry and structure on the optical properties of AlNxOy filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Barradas, N. P.; Alves, Eduardo; Beaufort, Marie France; Eyidi, Dominique; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
2014Process monitoring during AlNxOy deposition by reactive magnetron sputtering and correlation with the film’s propertiesBorges, Joel Nuno Pinto; Martin, N.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
2011Preparation and characterization of CrNxOy thin films: The effect of composition and structural features on the electrical behaviorArvinte, R.; Borges, Joel Nuno Pinto; Sousa, R. E.; Munteanu, Florentina-Daniela; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
2015Optical properties of zirconium oxynitride films: the effect of composition, electronic and crystalline structuresCarvalho, P.; Borges, Joel Nuno Pinto; Rodrigues, M. S.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Espinós, J. P.; González-Elipe, A. R.; Cunha, L.; Marques, L.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2010AlNxOy thin films deposited by DC reactive magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
Jun-2012Electrical properties of AlNxOy thin films prepared by reactive magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Martin, N.; Barradas, Nuno P.; Alves, E.; Eyidi, D.; Beaufort, Marie France; Riviere, J. P.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
Jun-2009Ab initio study of the properties of Ti1-x-ySixAlyN solid solutionMarques, L.; Carvalho, S.; Vaz, F.; Ramos, Marta M. D.; Rebouta, L.ArtigoAcesso aberto
Mai-2007Influence of oxygen addition on the structural and elastic properties of TiC thin filmsMarques, L.; Fernandes, Ana C.; Vaz, F.; Ramos, Marta M. D.ArtigoAcesso aberto
Ago-2011Optical properties of AlNxOy thin films deposited by DC magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
Set-2013Influence of composition, bonding characteristics and microstructure on the electrochemical and optical stability of AlOxNy thin filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Fonseca, C.; Barradas, Nuno P.; Alves, Eduardo; Girardeau, Thierry; Paumier, Fabien; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
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