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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
15-Out-2015Study of the electrical behavior of nanostructured Ti–Ag thin films, prepared by glancing angle depositionLopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Pedrosa, P.; Martin, N.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2015Electrochemical and structural characterization of nanocomposite Agy:TiNx thin films for dry bioelectrodes: the effect of the N/Ti ratio and Ag contentPedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Machado, D.; Fiedler, P.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Haueisen, J.; Vaz, F.; Fonseca, C.ArtigoAcesso restrito autor
8-Jan-2015Solar selective absorbers based on Al2O3:W cermets and AlSiN/AlSiON layersRebouta, L.; Sousa, A.; Capela, Paulina Araújo; Andritschky, M.; Santilli, P.; Matilainen, A.; Pischow, K.; Barradas, N. P.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
1-Jan-2015Ag (y) :TiN (x) thin films for dry biopotential electrodes: the effect of composition and structural changes on the electrical and mechanical behavioursPedrosa, P.; Machado, D.; Borges, Joel Nuno Pinto; Rodrigues, M. S.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Martin, N.; Evaristo, M.; Cavaleiro, A.; Fonseca, C.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2015Biological behaviour of thin films consisting of Au nanoparticles dispersed in a TiO2 dielectric matrixBorges, Joel Nuno Pinto; Costa, D.; Antunes, E.; Lopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Rodrigues, M. S.; Apreutesei, M.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Pedrosa, P.; Moura, C.; Cunha, L.; Polcar, T.; Vaz, F.; Sampaio, P.ArtigoAcesso restrito UMinho
2015Optical properties of zirconium oxynitride films: the effect of composition, electronic and crystalline structuresCarvalho, P.; Borges, Joel Nuno Pinto; Rodrigues, M. S.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Espinós, J. P.; González-Elipe, A. R.; Cunha, L.; Marques, L.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
3-Set-2015Composition and structure variation for magnetron sputtered tantalum oxynitride thin films, as function of deposition parametersCristea, D.; Pătru, M.; Crisan, A.; Munteanu, D.; Crăciun, D.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Apreutesei, M.; Moura, C.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
10-Jul-2015Structure dependent resistivity and dielectric characteristics of tantalum oxynitride thin films produced by magnetron sputteringCristea, D.; Crisan, A.; Cretu, N.; Borges, Joel Nuno Pinto; Lopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Cunha, L.; Ion, V.; Dinescu, M.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Apreutesei, M.; Munteanu, D.ArtigoAcesso restrito UMinho
Set-2015Raman study of insulating and conductive ZnO: (Al, Mn) thin filmsCerqueira, M. F.; Viseu, T. M. R.; Campos, J. Ayres de; Rolo, Anabela G.; Lacerda-Arôso, T. de; Oliveira, F.; Bogdanovic-Radovic, I.; Alves, E.; Vasilevskiy, MikhailArtigoAcesso aberto
Dez-2015Multifunctional Ti–Me (Me=Al, Cu) thin film systems for biomedical sensing devicesLopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Vieira, M.; Borges, Joel Nuno Pinto; Fernandes, J.; Rodrigues, M. S.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Apreutesei, M.; Steyer, P.; Tavares, C. J.; Cunha, L.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
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