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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2015Biological behaviour of thin films consisting of Au nanoparticles dispersed in a TiO2 dielectric matrixBorges, Joel Nuno Pinto; Costa, D.; Antunes, E.; Lopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Rodrigues, M. S.; Apreutesei, M.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Pedrosa, P.; Moura, C.; Cunha, L.; Polcar, T.; Vaz, F.; Sampaio, P.ArtigoAcesso restrito UMinho
30-Abr-2018Optimization of nanocomposite Au/TiO₂ thin films towards LSPR optical-sensingRodrigues, Marco S.; Costa, D.; Domingues, R. P.; Apreutesei, M.; Pedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Martin, N.; Correlo, V. M.; Reis, R. L.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Sampaio, Paula; Borges, Joel Nuno Pinto; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
Fev-2005Influence of nitrogen content on the structural, mechanical and electrical properties of TiN thin filmsVaz, F.; Ferreira, J. A.; Ribeiro, E.; Rebouta, L.; Lanceros-Méndez, S.; Mendes, J.; Alves, E.; Goudeau, Ph.; Rivière, J. P.; Ribeiro, A. Fernando; Moutinho, Ivo; Pischow, K.; Rijk, J.ArtigoAcesso aberto
Jun-2005Tribocorrosion behaviour of zrNxOy thin films for decorative applicationsFerreira, S. C.; Ariza, E.; Rocha, L. A.; Vaz, F.; Cunha, L.; Carvalho, P.; Rebouta, L.; Alves, E.; Goudeau, Ph.; Rivière, J. P.Resumo em ata de conferência Acesso aberto
2011Preparation and characterization of CrNxOy thin films: The effect of composition and structural features on the electrical behaviorArvinte, R.; Borges, Joel Nuno Pinto; Sousa, R. E.; Munteanu, Florentina-Daniela; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
2015Optical properties of zirconium oxynitride films: the effect of composition, electronic and crystalline structuresCarvalho, P.; Borges, Joel Nuno Pinto; Rodrigues, M. S.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Espinós, J. P.; González-Elipe, A. R.; Cunha, L.; Marques, L.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2004Corrosion resistance of ZrNxOy thin films obtained by rf reactive magnetron sputteringAriza, E.; Rocha, L. A.; Vaz, F.; Cunha, L.; Ferreira, S. C.; Carvalho, P.; Rebouta, L.; Alves, E.; Goudeau, Ph.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
2006Raman spectra and structural analysis in ZrOxNy thin filmsMoura, C.; Carvalho, P.; Vaz, F.; Cunha, L.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
Abr-2011Tuning of the surface plasmon resonance in TiO2/Au thin films grown by magnetron sputtering : the effect of thermal annealingTorrell, M.; Kabir, R.; Cunha, L.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.; Cavaleiro, A.; Alves, E.; Barradas, N. P.ArtigoAcesso aberto
25-Jun-2013Development of tantalum oxynitride thin films produced by PVD: study of structural stabilityCristea, D.; Crisan, A.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Moura, C.; Vaz, F.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
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