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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
15-Jun-2018Development of Au/CuO nanoplasmonic thin films for sensing applicationsProença, Maria Manuela Carvalho; Borges, Joel Nuno Pinto; Rodrigues, Marco S.; Domingues, R. P.; Dias, J. P.; Trigueiro, J.; Bundaleski, N.; Teodoro, O. M. N. D.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2018Nano-sculptured Janus-like TiAg thin films obliquely deposited by GLAD co-sputtering for temperature sensingPedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Ferreira, Armando José Barros; Martin, Nicolas; Yazdi, Mohammad Arab Pour; Billard, Alain; Lanceros-Méndez, S.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2018Tuning electrical resistivity anisotropy of ZnO thin films for resistive sensor applicationsFerreira, Armando José Barros; Martin, Nicolas; Lanceros-Méndez, S.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2018Properties of CrN thin films deposited in plasma-activated ABS by reactive magnetron sputteringPedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Rodrigues, Marco S.; Neto, Miguel A.; Oliveira, Filipe J.; Silva, Rui F.; Borges, Joel Nuno Pinto; Amaral, Margarida; Ferreira, Antonio; Godinho, Luis H.; Carvalho, Sandra; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2015Electrochemical and structural characterization of nanocomposite Agy:TiNx thin films for dry bioelectrodes: the effect of the N/Ti ratio and Ag contentPedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Machado, D.; Fiedler, P.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Haueisen, J.; Vaz, F.; Fonseca, C.ArtigoAcesso restrito autor
Set-2015Novel multipin electrode cap system for dry electroencephalographyFiedler, P.; Pedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Griebel, S.; Fonseca, C.; Vaz, F.; Supriyanto, E.; Zanow, F.; Haueisen, J.ArtigoAcesso restrito autor
2017Influence of the sputtering pressure on the morphological features and electrical resistivity anisotropy of nanostructured titanium filmsPedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Ferreira, Armando José Barros; Cote, Jean-Marc; Martin, Nicolas; Yazdi, Mohammad Arab Pour; Billard, Alain; Lanceros-Méndez, S.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
Jun-2012Electrical properties of AlNxOy thin films prepared by reactive magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Martin, N.; Barradas, Nuno P.; Alves, E.; Eyidi, D.; Beaufort, Marie France; Riviere, J. P.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
Dez-2008XRD and FTIR analysis of Ti–Si–C–ON coatings for biomedical applicationsOliveira, Cristina; Gonçalves, L. M.; Almeida, B. G.; Tavares, C. J.; Carvalho, S.; Vaz, F.; Escobar Galindo, R.; Henriques, Mariana; Susano, M.; Oliveira, RosárioArtigoAcesso aberto
2010Nanoscale color control of TiO2 films with embedded Au nanoparticlesTorrell, M.; Cunha, L.; Kabir, R.; Cavaleiro, A.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
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