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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
Jul-2019A study of solar thermal absorber stack based on CrAlSiNx /CrAlSiNxOy structure by ion beamsAl-Rjoub, A.; Costa, Pedro Miguel Pinto; Rebouta, L.; Radović, I. Bogdanović; Arstila, K.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Matilainen, A.; Pischow, K.ArtigoAcesso aberto
2015Deposition of Pd–Ag thin film membranes on ceramic supports for hydrogen purification/separationPereira, Ana Isabel; Pérez, P.; Rodrigues, S. C.; Mendes, A.; Madeira, L. M.; Tavares, C. J.ArtigoAcesso restrito UMinho
2014Influence of hydrogen plasma thermal treatment on the properties of ZnO:Al thin films prepared by dc magnetron sputteringCastro, Maria Freire Flores Vieira; Cerqueira, M. F.; Rebouta, L.; Alpuim, P.; Garcia, Cibeli Navarro Belletti; Júnior, G. L.; Tavares, C. J.ArtigoAcesso restrito UMinho
2013Electrical and photocatalytic behaviour of TAOxNy magnetron sputtered thin solid filmsCristea, D.; Crisan, A.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Costa, P.; Lanceros-Méndez, S.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
Jun-2013Influence of thermal annealing on structural and optical properties of Au:TiO2 nanocomposite filmMarin, A.; Munteanu, D.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Cunha, L.; Moura, C.ArtigoAcesso restrito UMinho
13-Fev-2002Young's modulus of (Ti,Si)N films by surface acoustic waves and indentation techniquesVaz, F.; Carvalho, S.; Rebouta, L.; Silva, M. Z.; Paúl, A.; Schneider, D.ArtigoAcesso aberto
24-Jul-2012Electron backscatter diffraction analysis of ZnO:Al thin filmsGarcia, Cibeli Navarro Belletti; Ariza, E.; Tavares, C. J.; Villechaise, P.ArtigoAcesso restrito UMinho
2015Dependence of Ga-doped ZnO thin film properties on different sputtering process parameters: Substrate temperature, sputtering pressure and bias voltageCastro, M. V.; Tavares, C. J.ArtigoAcesso aberto
15-Nov-2016Influence of oxygen content on the antibacterial effect of Ag-O coatings deposited by magnetron sputteringRebelo, R.; Calderon, V. S.; Fangueiro, Raúl; Henriques, Mariana; Carvalho, S.ArtigoAcesso aberto
2015The influence of nitrogen and oxygen additions on the thermal characteristics of aluminium-based thin filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Macedo, Francisco; Couto, F. M.; Rodrigues, M.S.; Lopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Pedrosa, P.; Polcar, T.; Marques, L.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
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