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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
15-Jan-2015Evolution of the functional properties of titanium–silver thin films for biomedical applications: Influence of in-vacuum annealingLopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Gonçalves, C.; Borges, Joel Nuno Pinto; Polcar, T.; Rodrigues, M. S.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Le Bourhis, E.; Couto, F. M.; Macedo, Francisco; Fonseca, C.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
Abr-2010Functional and optical properties of Au :TiO2 nanocomposite films : the influence of thermal annealingTorrell, M.; Cunha, L.; Cavaleiro, A.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
Ago-2011Optical properties of AlNxOy thin films deposited by DC magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
18-Set-2009ZrOxNy decorative thin films prepared by the reactive gas pulsing processCarvalho, P.; Cunha, L.; Alves, E.; Martin, N.; Le Bourhis, E.; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
8-Ago-2008Effect of thermal treatments on the structure of MoNxOy thin filmsCunha, L.; Rebouta, L.; Vaz, F.; Staszuk, M.; Malara, S.; Barbosa, J.; Carvalho, P.; Alves, E.; Le Bourhis, E.; Goudeau, Ph.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
Abr-2011Tuning of the surface plasmon resonance in TiO2/Au thin films grown by magnetron sputtering : the effect of thermal annealingTorrell, M.; Kabir, R.; Cunha, L.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.; Cavaleiro, A.; Alves, E.; Barradas, N. P.ArtigoAcesso aberto
25-Jun-2013Development of tantalum oxynitride thin films produced by PVD: study of structural stabilityCristea, D.; Crisan, A.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Moura, C.; Vaz, F.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
1-Jul-2017Optical and structural analysis of solar selective absorbing coatings based on AlSiOx:W cermetsDias, D.; Rebouta, L.; Costa, P.; Al-Rjoub, A.; Benelmeki, M.; Tavares, C. J.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Santilli, P.; Pischow, K.ArtigoAcesso aberto
12-Set-2017Corrosion behavior of titanium oxynitrided by diffusion and magnetron sputtering methods in physiological solutionPohrelyuk, I. M.; Yaskiv, O. I.; Tkachuk, O. V.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
2001Elastic properties of (Ti,Al,Si) N nanocomposite filmsCarvalho, S.; Vaz, F.; Rebouta, L.; Schneider, D.; Cavaleiro, A.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
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