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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2015Overview on magnetron sputtered tantalum oxynitride thin films – structures and propertiesCristea, D.; Cunha, Luís; Crișan, A.; Munteanu, D.Artigo em ata de conferênciaAcesso restrito UMinho
2018Development of a statistical method to help evaluating the transparency/opacity of decorative thin filmsOliveira, C. I. da Silva; Martínez Martinez, Diego; Al-Rjoub, Abbas; Rebouta, L.; Menezes, Raquel; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
2012In-service behaviour of (Ti,Si,Al)Nx nanocomposite filmsCarvalho, S.; Parreira, N. M. G.; Silva, M. Z.; Cavaleiro, A.; Rebouta, L.ArtigoAcesso aberto
2015Optical properties of zirconium oxynitride films: the effect of composition, electronic and crystalline structuresCarvalho, P.; Borges, Joel Nuno Pinto; Rodrigues, M. S.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Espinós, J. P.; González-Elipe, A. R.; Cunha, L.; Marques, L.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
8-Jan-2015Solar selective absorbers based on Al2O3:W cermets and AlSiN/AlSiON layersRebouta, L.; Sousa, A.; Capela, Paulina Araújo; Andritschky, M.; Santilli, P.; Matilainen, A.; Pischow, K.; Barradas, N. P.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2018Crystallization processes in bicomponent thin film depositions: towards a realistic kinetic Monte Carlo simulationMartinez-Martinez, D.; Herdes, C.; Vega, Lourdes F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2018In-situ XRD vs ex-situ vacuum annealing of tantalum oxynitride thin films: Assessments on the structural evolutionCunha, L.; Apreutesei, M.; Moura, C.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Cristea, D.ArtigoAcesso restrito UMinho
2013Estudo da atividade fotocatalítica de filmes finos de dióxido de titânio dopados com prataPizarro, Henrique Manuel RodriguesDissertação de mestrado Acesso aberto
9-Jan-2018Development of bioactive surfaces for bone ingrowth on dental implantsAlves, Cristiana Filipa AlmeidaTese de doutoramentoAcesso aberto
15-Out-2015Study of the electrical behavior of nanostructured Ti–Ag thin films, prepared by glancing angle depositionLopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Pedrosa, P.; Martin, N.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
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