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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2018Properties of CrN thin films deposited in plasma-activated ABS by reactive magnetron sputteringPedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Rodrigues, Marco S.; Neto, Miguel A.; Oliveira, Filipe J.; Silva, Rui F.; Borges, Joel Nuno Pinto; Amaral, Margarida; Ferreira, Antonio; Godinho, Luis H.; Carvalho, Sandra; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
3-Jan-2006Properties of MoNxOy thin films as a function of N/O ratioBarbosa, José Gusman; Cunha, L.; Rebouta, L.; Moura, C.; Vaz, F.; Carvalho, S.; Alves, E.; Le Bourhis, E.; Goudeau, Ph.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
13-Fev-2002Young's modulus of (Ti,Si)N films by surface acoustic waves and indentation techniquesVaz, F.; Carvalho, S.; Rebouta, L.; Silva, M. Z.; Paúl, A.; Schneider, D.ArtigoAcesso aberto
Jun-2009Ab initio study of the properties of Ti1-x-ySixAlyN solid solutionMarques, L.; Carvalho, S.; Vaz, F.; Ramos, Marta M. D.; Rebouta, L.ArtigoAcesso aberto
2001Elastic properties of (Ti,Al,Si) N nanocomposite filmsCarvalho, S.; Vaz, F.; Rebouta, L.; Schneider, D.; Cavaleiro, A.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2009Structural evolution of Ti-Al-Si-N nanocomposite coatingCarvalho, S.; Rebouta, L.; Ribeiro, E.; Vaz, F.; Tavares, C. J.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
2008Effect of the microstructure on the cutting performance of superhard (Ti, Si, Al)N nanocomposite filmsFernandes, C.; Carvalho, S.; Rebouta, L.; Vaz, F.; Denannot, M. F.; Pacaud, J.; Rivière, J. P.; Cavaleiro, A.ArtigoAcesso aberto
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