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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2019Surface Plasmon Resonance in a metallic nanoparticle embedded in a semiconductor matrix: exciton-plasmon couplingPereira, Rui M. S.; Borges, Joel Nuno Pinto; Smirnov, Georgi; Vaz, F.; Vasilevskiy, MikhailArtigoAcesso restrito UMinho
2019Nanocomposite thin films based on Au-Ag nanoparticles embedded in a CuO matrix for localized surface plasmon resonance sensingProença, Maria Manuela Carvalho; Borges, Joel Nuno Pinto; Rodrigues, Marco S.; Meira, Diana Isabela Faria; Sampaio, Paula; Dias, João P.; Pedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Martin, Nicolas; Bundaleski, Nenad; Teodoro, Orlando M.N.D.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2019Thin films composed of metal nanoparticles (Au, Ag, Cu) dispersed in AlN: the influence of composition and thermal annealing on the structure and plasmonic responseDomingues, R. P.; Rodrigues, Marco S.; Lopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Pedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Alves, Eduardo; Barradas, Nuno P.; Borges, Joel Nuno Pinto; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2011Preparation and characterization of CrNxOy thin films: The effect of composition and structural features on the electrical behaviorArvinte, R.; Borges, Joel Nuno Pinto; Sousa, R. E.; Munteanu, Florentina-Daniela; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
2016Broadband optical absorption caused by plasmonic response of coalesced Au nanoparticles embedded in a TiO2 matrixBorges, Joel; Pereira, Rui M. S.; Rodrigues, M. S.; Kubart, T.; Kumar, S.; Leifer, K.; Cavaleiro, A.; Polcar, T.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2014Modulated IR radiometry for determining thermal properties and basic chracetristics of titanium thin filmsApreutesei, M.; Lopes, Cláudia de Jesus Ribeiro; Borges, Joel Nuno Pinto; Vaz, F.; Macedo, FranciscoArtigoAcesso restrito UMinho
2015Optical properties of zirconium oxynitride films: the effect of composition, electronic and crystalline structuresCarvalho, P.; Borges, Joel Nuno Pinto; Rodrigues, M. S.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Espinós, J. P.; González-Elipe, A. R.; Cunha, L.; Marques, L.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
10-Jul-2015Structure dependent resistivity and dielectric characteristics of tantalum oxynitride thin films produced by magnetron sputteringCristea, D.; Crisan, A.; Cretu, N.; Borges, Joel Nuno Pinto; Lopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Cunha, L.; Ion, V.; Dinescu, M.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Apreutesei, M.; Munteanu, D.ArtigoAcesso restrito UMinho
2010AlNxOy thin films deposited by DC reactive magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
Jan-2020Thin films of Au-Al2O3 for plasmonic sensingMeira, Diana Isabela Faria; Domingues, Rui P.; Rodrigues, Marco S.; Alves, Eduardo; Barradas, Nuno P.; Borges, Joel Nuno Pinto; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
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