Pesquisa avançada

.

Filtros atuais:

Usar filtros adicionais para refinar os resultados da pesquisa:

 |          

Lista de resultados: 11-20 de um total de 46 resultados (tempo de pesquisa: 0.0 segundos).
DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
3-Set-2015Composition and structure variation for magnetron sputtered tantalum oxynitride thin films, as function of deposition parametersCristea, D.; Pătru, M.; Crisan, A.; Munteanu, D.; Crăciun, D.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Apreutesei, M.; Moura, C.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
2015Optical properties of zirconium oxynitride films: the effect of composition, electronic and crystalline structuresCarvalho, P.; Borges, Joel Nuno Pinto; Rodrigues, M. S.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Espinós, J. P.; González-Elipe, A. R.; Cunha, L.; Marques, L.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
10-Jul-2015Structure dependent resistivity and dielectric characteristics of tantalum oxynitride thin films produced by magnetron sputteringCristea, D.; Crisan, A.; Cretu, N.; Borges, Joel Nuno Pinto; Lopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Cunha, L.; Ion, V.; Dinescu, M.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Apreutesei, M.; Munteanu, D.ArtigoAcesso restrito UMinho
2006Raman spectra and structural analysis in ZrOxNy thin filmsMoura, C.; Carvalho, P.; Vaz, F.; Cunha, L.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
28-Jul-2004Atomic environment and interfacial structural order of TiAlN/Mo multilayersTavares, C. J.; Rebouta, L.; Rivière, J. P.; Girardeau, T.; Goudeau, Ph.; Alves, E.; Barradas, N. P.ArtigoAcesso aberto
27-Mai-2008Influence of the chemical and electronic structure on the electrical behavior of zirconium oxynitride filmsCarvalho, P.; Chappé, J. M.; Cunha, L.; Lanceros-Méndez, S.; Alpuim, P.; Vaz, F.; Alves, E.; Rousselot, C.; Espinós, J. P.; Gonzalez-Elipe, A. R.ArtigoAcesso aberto
2004Corrosion resistance of ZrNxOy thin films obtained by rf reactive magnetron sputteringAriza, E.; Rocha, L. A.; Vaz, F.; Cunha, L.; Ferreira, S. C.; Carvalho, P.; Rebouta, L.; Alves, E.; Goudeau, Ph.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
3-Jan-2006Properties of MoNxOy thin films as a function of N/O ratioBarbosa, José Gusman; Cunha, L.; Rebouta, L.; Moura, C.; Vaz, F.; Carvalho, S.; Alves, E.; Le Bourhis, E.; Goudeau, Ph.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
30-Abr-2018Optimization of nanocomposite Au/TiO₂ thin films towards LSPR optical-sensingRodrigues, Marco S.; Costa, D.; Domingues, R. P.; Apreutesei, M.; Pedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Martin, N.; Correlo, V. M.; Reis, R. L.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Sampaio, Paula; Borges, Joel Nuno Pinto; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2020W/AlSiTiNx/SiAlTiOyNx/SiAlOx multilayered solar thermal selective absorber coatingAL-Rjoub, A.; Rebouta, L.; Cunha, N. F.; Fernandes, F.; Barradas, N. P.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto