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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
Ago-2008Indium tin oxide thin films prepared by ion beam assisted deposition technique at different ion beam currentsMeng Lijian; Gao Jinsong; Teixeira, Vasco M. P.; Santos, M. P. dosArtigoAcesso aberto
2008Structural study of the oxidation process and stability of NbOxNy coatingsChappé, J. M.; Carvalho, P.; Machado, A. V.; Vaz, F.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Fenker, M.; Kappl, H.ArtigoAcesso restrito UMinho
27-Mai-2008Influence of the chemical and electronic structure on the electrical behavior of zirconium oxynitride filmsCarvalho, P.; Chappé, J. M.; Cunha, L.; Lanceros-Méndez, S.; Alpuim, P.; Vaz, F.; Alves, E.; Rousselot, C.; Espinós, J. P.; Gonzalez-Elipe, A. R.ArtigoAcesso aberto
8-Ago-2008Influence of oxygen/argon pressure ratio on the morphology, optical and electrical properties of ITO thin films deposited at room temperatureCui, Hai-Ning; Teixeira, Vasco M. P.; Meng Lijian; Martins, R. F. P.; Fortunato, E.ArtigoAcesso aberto
15-Fev-2008Thermochromic properties of vanadium oxide films prepared by dc reactive magnetron sputteringCui, Hai-Ning; Teixeira, Vasco M. P.; Meng Lijian; Wang, Rong; Gao, Jin-Yue; Fortunato, E.ArtigoAcesso aberto
30-Jun-2008Effect of the oxygen flow on the properties of ITO thin films deposited by ion beam assisted deposition (IBAD)Meng Lijian; Gao Jinsong; Silva, R. A.; Song ShigengArtigoAcesso aberto
15-Fev-2008The effect of the ion beam energy on the properties of indium tin oxide thin films prepared by ion beam assisted depositionMeng Lijian; Gao Jinsong; Santos, M. P. dos; Wang Xiaoyi; Wang TongtongArtigoAcesso aberto
2008Effect of the microstructure on the cutting performance of superhard (Ti, Si, Al)N nanocomposite filmsFernandes, C.; Carvalho, S.; Rebouta, L.; Vaz, F.; Denannot, M. F.; Pacaud, J.; Rivière, J. P.; Cavaleiro, A.ArtigoAcesso aberto
30-Jun-2008Development of dark Ti(C,O,N) coatings prepared by reactive sputteringChappé, J. M.; Vaz, F.; Cunha, L.; Moura, C.; Marco de Lucas, M. C.; Imhoff, L.; Bourgeois, S.; Pierson, J. F.ArtigoAcesso aberto
8-Ago-2008Effect of thermal treatments on the structure of MoNxOy thin filmsCunha, L.; Rebouta, L.; Vaz, F.; Staszuk, M.; Malara, S.; Barbosa, J.; Carvalho, P.; Alves, E.; Le Bourhis, E.; Goudeau, Ph.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
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