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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2018In-situ XRD vs ex-situ vacuum annealing of tantalum oxynitride thin films: Assessments on the structural evolutionCunha, L.; Apreutesei, M.; Moura, C.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Cristea, D.ArtigoAcesso restrito UMinho
15-Nov-2017Synthesis, solvatochromism and crystal structure of trans-[Cu(Et2NCH2CH2NH2)(2)center dot H2O](NO3)(2) complex: Experimental with DFT combinationWarad, Ismail; Musameh, Sharif; Badran, Ismail; Nassar, Nashaat N.; Brandão, Paula; Tavares, C. J.; Barakat, AssemArtigoAcesso aberto
2015Chemical and structural characterization of ZrCNAg coatings: XPS, XRD and Raman spectroscopyVelasco, Sebastian Calderon; Cavaleiro, A.; Carvalho, S.ArtigoAcesso restrito UMinho
2014Structural and electrochemical characterization of Zr–C–N–Ag coatings deposited by DC dual magnetron sputteringVelasco, Sebastian Calderon; Lopez, V.; Alves, C. F. Almeida; Cavaleiro, A.; Carvalho, S.ArtigoAcesso restrito UMinho
15-Fev-2008Thermochromic properties of vanadium oxide films prepared by dc reactive magnetron sputteringCui, Hai-Ning; Teixeira, Vasco M. P.; Meng Lijian; Wang, Rong; Gao, Jin-Yue; Fortunato, E.ArtigoAcesso aberto
2018Zr-O-N coatings for decorative purposes: study of the system stability by exploration of the deposition parameter spaceOliveira, C. I. da Silva; Martínez Martinez, Diego; Cunha, L.; Rodrigues, M. S.; Borges, J.; Lopes, C.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Apreutesei, M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2008Effect of the microstructure on the cutting performance of superhard (Ti, Si, Al)N nanocomposite filmsFernandes, C.; Carvalho, S.; Rebouta, L.; Vaz, F.; Denannot, M. F.; Pacaud, J.; Rivière, J. P.; Cavaleiro, A.ArtigoAcesso aberto
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