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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
1998Structural characterization of μc-Si:H films produced by R.F. magnetron sputteringCerqueira, M. F.; Ferreira, J. A.; Andritschky, M.; Costa, Manuel F. M.ArtigoAcesso aberto
2008The influence of electric field on the microstructure of nc-Si:H films produced by RF magnetron sputteringThaiyalnayaki, V.; Cerqueira, M. F.; Ferreira, J. A.; Tovar, J.ArtigoAcesso aberto
2000Structural studies and influence of the structure on the electrical and optical properties of microcrystalline silicon thin films produced by RF sputteringCerqueira, M. F.; Ferreira, J. A.; Adriaenssens, G. J.ArtigoAcesso aberto
2002The structure and photoluminescence of erbium-doped nanocrystalline silicon thin films produced by reactive magnetron sputteringCerqueira, M. F.; Losurdo, M.; Stepikhova, M.; Conde, O.; Giangregorio, M. M.; Pinto, Pedro; Ferreira, J. A.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
1997Optical modulation spectroscopy of hydrogenated microcrystalline siliconCerqueira, M. F.; Jansen, John A.; Adriaenssens, G. J.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
2001Spectroscopic ellipsometry study of the layer structure and impurity content in Er-doped nanocrystalline silicon thin filmsLosurdo, M.; Cerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Alves, E.; Giangregorio, M. M.; Pinto, P.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
2001Photoluminescence of erbium doped microcrystalline silicon thin films produced by reactive magnetron sputteringCerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
2003Laser modulated optical reflectance of thin semiconductor films on glassFotsing, J. L. N.; Hoffmeyer, M.; Chotikaprakhan, S.; Dietzel, D.; Pelzl, J.; Bein, Bruno K.; Cerqueira, M. F.; Macedo, Francisco; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
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