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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2001Spectroscopic ellipsometry study of the layer structure and impurity content in Er-doped nanocrystalline silicon thin filmsLosurdo, M.; Cerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Alves, E.; Giangregorio, M. M.; Pinto, P.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
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