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https://hdl.handle.net/1822/37332| Title: | Análise de materiais e superfícies: microscopia eletrónica |
| Author(s): | Fonseca, A. Maurício C. |
| Issue date: | 2013 |
| Abstract(s): | Microscopia eletrónica de varrimento (SEM - Scanning Eletron Microscope). Espectrómetro de energia dispersiva (EDS) e espectrómetro por dispersão de comprimento de onda (WDS). Microscopia eletrónica de transmissão (TEM). Microscopia de transmissão eletrónica de varrimento (STEM) Microscópio eletrónico de reflexão (REM) Microscopia eletrónica de baixa tensão (LSEM) Microscopias de sonda de varrimento (SPM/AFM - Scanning Probe Microscope/) Microscópio ótico de campo próximo SNOM |
| Type: | Pedagogical publication |
| URI: | https://hdl.handle.net/1822/37332 |
| Access: | Restricted access (UMinho) |
| Appears in Collections: | CDQuim - Textos e publicações de natureza pedagógica |
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| File | Description | Size | Format | |
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| Análise de materiais e superfícies - módulo miscroscopia eletrónica e MFA.pdf Restricted access | Microscopia eletrónica e microscopia de força atómica | 1,81 MB | Adobe PDF | View/Open |
