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https://hdl.handle.net/1822/37332| Título: | Análise de materiais e superfícies: microscopia eletrónica |
| Autor(es): | Fonseca, A. Maurício C. |
| Data: | 2013 |
| Resumo(s): | Microscopia eletrónica de varrimento (SEM - Scanning Eletron Microscope). Espectrómetro de energia dispersiva (EDS) e espectrómetro por dispersão de comprimento de onda (WDS). Microscopia eletrónica de transmissão (TEM). Microscopia de transmissão eletrónica de varrimento (STEM) Microscópio eletrónico de reflexão (REM) Microscopia eletrónica de baixa tensão (LSEM) Microscopias de sonda de varrimento (SPM/AFM - Scanning Probe Microscope/) Microscópio ótico de campo próximo SNOM |
| Tipo: | Publicação pedagógica |
| URI: | https://hdl.handle.net/1822/37332 |
| Acesso: | Acesso restrito UMinho |
| Aparece nas coleções: | CDQuim - Textos e publicações de natureza pedagógica |
Ficheiros deste registo:
| Ficheiro | Descrição | Tamanho | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| Análise de materiais e superfícies - módulo miscroscopia eletrónica e MFA.pdf Acesso restrito! | Microscopia eletrónica e microscopia de força atómica | 1,81 MB | Adobe PDF | Ver/Abrir |
