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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2009Structural and photoluminescence studies of erbium implanted nanocrystalline silicon thin filmsCerqueira, M. F.; Alpuim, P.; Filonovich, Sergej; Alves, E.; Rolo, Anabela G.; Andrês, G.; Soares, J.; Kozanecki, A.ArtigoAcesso aberto
2010Raman study of doped-ZnO thin films grown by rf sputteringCerqueira, M. F.; Rolo, Anabela G.; Viseu, T. M. R.; Campos, J. Ayres de; Arôso, T. de Lacerda; Oliveira, Fernando; Vasilevskiy, Mikhail; Alves, E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
Abr-2010Erbium-doped nanocrystalline silicon thin films produced by RF sputtering: annealing effect on the ER emissionCerqueira, M. F.; Monteiro, T.; Soares, Manuel Jorge; Kozanecki, A.; Alpuim, P.; Alves, E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
2004Visible and near IR photoluminescent response of nc-Si: er thin films produced by rf sputteringCerqueira, M. F.; Monteiro, T.; Stepikhova, M.; Losurdo, M.; Soares, M. J.; Gomes, I. TarrosoArtigoAcesso aberto
2006Effect of the matrix on the 1.5 microm photoluminescence of Er-doped silicon quantum dotsCerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Losurdo, M.; Monteiro, T.; Soares, Manuel Jorge; Peres, M.; Neves, A.; Alves, E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
2015Solar selective absorbing coatings based on AlSiN/AlSiON/AlSiOy layersRebouta, L.; Sousa, A.; Andritschky, M.; Cerqueira, F.; Tavares, C. J.; Santilli, P.; Pischow, K.ArtigoAcesso aberto
15-Ago-2017Characterization of magnetron sputtered sub-stoichiometric CrAlSiNx and CrAlSiOyNx coatingsAl-Rjoub, A.; Costa, P.; Rebouta, L.; Cerqueira, M. F.; Alpuim, P.; Barradas, N. P.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2010Amorphous silicon thin-film solar cells deposited on flexible substrates using different zinc oxide layersAlpuim, P.; Samantilleke, A. P.; Marins, E.; Oliveira, F.; Cerqueira, M. F.; Rebouta, L.; Stefanov, S.; Chiussi, S.; Serra, C.; Bouree, J. E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
2015Multi-stacks of epitaxial GeSn self-assembled dots in Si: Structural analysisOliveira, F.; Fischer, I. A.; Benedetti, A.; Cerqueira, M. F.; Vasilevskiy, Mikhail; Stefanov, S.; Chiussi, S.; Schulze, J.ArtigoAcesso aberto
2015Permeation barrier performance of Hot Wire-CVD grown silicon-nitride films treated by argon plasmaMajee, S.; Cerqueira, M. F.; Tondelier, D.; Vanel, J. C.; Geffroy, B.; Bonnassieux, Y.; Alpuim, P.; Bourée, J. E.ArtigoAcesso aberto
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