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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
1-Jun-2010Strain dependence electrical resistance and cohesive strength of ITO thin films deposited on electroactive polymerRebouta, L.; Rubio-Peña, L.; Oliveira, C.; Lanceros-Méndez, S.; Tavares, C. J.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
Out-2020Corrigendum to “Compositional analysis by RBS, XPS and EDX of ZnO:Al,Bi and ZnO:Ga,Bi thin films deposited by d.c. magnetron sputtering” [Vacuum 161 (2019) 268–275]Ribeiro, J. M.; Correia, Filipe Costa; Salvador, Paulo Miguel Babo Cunha; Rebouta, L.; Alves, L. C.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Mendes, A.; Tavares, C. J.CorrigendaAcesso restrito UMinho
2014Optimisation of surface treatments of TiO2:Nb transparent conductive coatings by a post-hot-wire annealing in a reducing H2 atmosphereCastro, Maria Freire Flores Vieira; Rebouta, L.; Alpuim, P.; Cerqueira, M. F.; Benelmekki, M.; Garcia, Cibeli Navarro Belletti; Alves, E.; Barradas, N. P.; Xuriguera, E.; Tavares, C. J.ArtigoAcesso restrito UMinho
Abr-2010Functional and optical properties of Au :TiO2 nanocomposite films : the influence of thermal annealingTorrell, M.; Cunha, L.; Cavaleiro, A.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
Ago-2011Optical properties of AlNxOy thin films deposited by DC magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
8-Ago-2008Effect of thermal treatments on the structure of MoNxOy thin filmsCunha, L.; Rebouta, L.; Vaz, F.; Staszuk, M.; Malara, S.; Barbosa, J.; Carvalho, P.; Alves, E.; Le Bourhis, E.; Goudeau, Ph.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
18-Set-2009ZrOxNy decorative thin films prepared by the reactive gas pulsing processCarvalho, P.; Cunha, L.; Alves, E.; Martin, N.; Le Bourhis, E.; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
1-Jul-2017Optical and structural analysis of solar selective absorbing coatings based on AlSiOx:W cermetsDias, D.; Rebouta, L.; Costa, P.; Al-Rjoub, A.; Benelmeki, M.; Tavares, C. J.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Santilli, P.; Pischow, K.ArtigoAcesso aberto
25-Jun-2013Development of tantalum oxynitride thin films produced by PVD: study of structural stabilityCristea, D.; Crisan, A.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Moura, C.; Vaz, F.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
Abr-2011Tuning of the surface plasmon resonance in TiO2/Au thin films grown by magnetron sputtering : the effect of thermal annealingTorrell, M.; Kabir, R.; Cunha, L.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.; Cavaleiro, A.; Alves, E.; Barradas, N. P.ArtigoAcesso aberto
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