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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2003Interrelation between microstructure and optical properties of erbium-doped nanocrystalline thin filmsLosurdo, M.; Cerqueira, M. F.; Alves, E.; Stepikhova, M.; Giangregorio, M. M.; Bruno, G.ArtigoAcesso aberto
2003Dielectric function of nanocrystalline silicon with few nanometers (<3 nm) grain sizeLosurdo, M.; Giangregorio, M. M.; Capezzuto, Pio; Bruno, G.; Cerqueira, M. F.; Alves, E.; Stepikhova, M.ArtigoAcesso aberto
2003Influence of crystals distribution on the photoluminescence properties of nanocrystalline silicon thin filmsCerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Losurdo, M.; Giangregorio, M. M.; Alves, E.; Monteiro, T.; Soares, Manuel J.; Boemare, C.ArtigoAcesso aberto
2002The structure and photoluminescence of erbium-doped nanocrystalline silicon thin films produced by reactive magnetron sputteringCerqueira, M. F.; Losurdo, M.; Stepikhova, M.; Conde, O.; Giangregorio, M. M.; Pinto, Pedro; Ferreira, J. A.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
2004The role of microstructure in luminescent properties of Er-doped nanocrystalline Si thin filmsStepikhova, M.; Cerqueira, M. F.; Losurdo, M.; Giangregorio, M. M.; Alves, E.; Monteiro, T.; Soares, Manuel JorgeArtigoAcesso aberto
2001Spectroscopic ellipsometry study of the layer structure and impurity content in Er-doped nanocrystalline silicon thin filmsLosurdo, M.; Cerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Alves, E.; Giangregorio, M. M.; Pinto, P.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
2006Erbium-doped silicon nanocrystals grown by r.f. sputtering method: competition between oxygen and silicon to get erbiumCerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Losurdo, M.; Giangregorio, M. M.; Kozanecki, A.; Monteiro, T.ArtigoAcesso aberto
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