Pesquisa avançada

.

Filtros atuais:

Usar filtros adicionais para refinar os resultados da pesquisa:

 |          

Lista de resultados: 1-10 de um total de 25 resultados (tempo de pesquisa: 0.0 segundos).
DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
1998Structural characterization of μc-Si:H films produced by R.F. magnetron sputteringCerqueira, M. F.; Ferreira, J. A.; Andritschky, M.; Costa, Manuel F. M.ArtigoAcesso aberto
1995Microcrystalline silicon thin films prepared by RF reactive magnetron sputter depositionCerqueira, M. F.; Andritschky, M.; Rebouta, L.; Ferreira, J. A.; Silva, M. F.ArtigoAcesso aberto
2010Raman study of doped-ZnO thin films grown by rf sputteringCerqueira, M. F.; Rolo, Anabela G.; Viseu, T. M. R.; Campos, J. Ayres de; Arôso, T. de Lacerda; Oliveira, Fernando; Vasilevskiy, Mikhail; Alves, E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
2004Visible and near IR photoluminescent response of nc-Si: er thin films produced by rf sputteringCerqueira, M. F.; Monteiro, T.; Stepikhova, M.; Losurdo, M.; Soares, M. J.; Gomes, I. TarrosoArtigoAcesso aberto
2006Effect of the matrix on the 1.5 microm photoluminescence of Er-doped silicon quantum dotsCerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Losurdo, M.; Monteiro, T.; Soares, Manuel Jorge; Peres, M.; Neves, A.; Alves, E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
2001Spectroscopic ellipsometry study of the layer structure and impurity content in Er-doped nanocrystalline silicon thin filmsLosurdo, M.; Cerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Alves, E.; Giangregorio, M. M.; Pinto, P.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
2009ZnO thin films implanted with Al, Sb and P: optical, structural and electrical characterizationViseu, T. M. R.; Campos, J. Ayres de; Rolo, Anabela G.; Arôso, T. de Lacerda; Cerqueira, M. F.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2006Study of the oxygen role in the photoluminescence of erbium doped nanocrystalline silicon embedded in a silicon amorphous matrixCerqueira, M. F.; Losurdo, M.; Monteiro, T.; Stepikhova, M.; Soares, M. J.; Peres, M.; Alves, E.; Conde, O.ArtigoAcesso aberto
2003Interrelation between microstructure and optical properties of erbium-doped nanocrystalline thin filmsLosurdo, M.; Cerqueira, M. F.; Alves, E.; Stepikhova, M.; Giangregorio, M. M.; Bruno, G.ArtigoAcesso aberto
2003Dielectric function of nanocrystalline silicon with few nanometers (<3 nm) grain sizeLosurdo, M.; Giangregorio, M. M.; Capezzuto, Pio; Bruno, G.; Cerqueira, M. F.; Alves, E.; Stepikhova, M.ArtigoAcesso aberto
1-10 de um total de 25 resultados (tempo de pesquisa: 0.0 segundos).

Descobrir