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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2010Structural study of Si1-xGex nanocrystals embedded in SiO2 filmsPinto, S. R. C.; Kashtiban, R. J.; Rolo, Anabela G.; Buljan, M.; Chahboun, A.; Bangert, U.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
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