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TítuloApplication of X-ray microtomography to the microstructural characterization of Al-based functionally graded materials
Autor(es)Velhinho, A.
Fernandes, F. M. Braz
Ferreira, S. C.
Rocha, L. A.
Vignoles, G.
Cloetens, P.
Palavras-chaveComposites
Data2006
EditoraTrans Tech Publications
RevistaAdvances in Science and Technology
Citação"Advances in Science and Technology". ISSN 1662-8969. 45 (2006) 1109-1116.
Resumo(s)This paper provides a brief overview of the possibilities offered by X-ray computed microtomography, and particularly synchrotron radiation X-ray microtomography, regarding metal matrix composite characterization, emphasis being placed in the case of Al-based functionally graded materials. Examples are provided concerning the characterization of the reinforcement population, interfacial properties, in-situ transformation and damage evolution. The specific needs of the technique and limitations to its widespread use are mentioned.
TipoArtigo em ata de conferência
URIhttps://hdl.handle.net/1822/8629
ISSN1662-8969
Arbitragem científicayes
AcessoAcesso aberto
Aparece nas coleções:CIICS - Artigos em revistas de circulação internacional com arbitragem científica

Ficheiros deste registo:
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