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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
28-Jul-2004Atomic environment and interfacial structural order of TiAlN/Mo multilayersTavares, C. J.; Rebouta, L.; Rivière, J. P.; Girardeau, T.; Goudeau, Ph.; Alves, E.; Barradas, N. P.ArtigoAcesso aberto
2014Optimisation of surface treatments of TiO2:Nb transparent conductive coatings by a post-hot-wire annealing in a reducing H2 atmosphereCastro, Maria Freire Flores Vieira; Rebouta, L.; Alpuim, P.; Cerqueira, M. F.; Benelmekki, M.; Garcia, Cibeli Navarro Belletti; Alves, E.; Barradas, N. P.; Xuriguera, E.; Tavares, C. J.ArtigoAcesso restrito UMinho
1-Jul-2017Optical and structural analysis of solar selective absorbing coatings based on AlSiOx:W cermetsDias, D.; Rebouta, L.; Costa, P.; Al-Rjoub, A.; Benelmeki, M.; Tavares, C. J.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Santilli, P.; Pischow, K.ArtigoAcesso aberto
2009Structural and electrical properties of Al doped ZnO thin films deposited at room temperature on poly(vinilidene fluoride) substratesOliveira, C.; Rebouta, L.; de Lacerda-Arôso, T.; Lanceros-Méndez, S.; Viseu, T. M. R.; Tavares, C. J.; Tovar, J.; Ferdov, S.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
1-Jun-2010Strain dependence electrical resistance and cohesive strength of ITO thin films deposited on electroactive polymerRebouta, L.; Rubio-Peña, L.; Oliveira, C.; Lanceros-Méndez, S.; Tavares, C. J.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2009Structural evolution of Ti-Al-Si-N nanocomposite coatingCarvalho, S.; Rebouta, L.; Ribeiro, E.; Vaz, F.; Tavares, C. J.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
Out-2020Corrigendum to “Compositional analysis by RBS, XPS and EDX of ZnO:Al,Bi and ZnO:Ga,Bi thin films deposited by d.c. magnetron sputtering” [Vacuum 161 (2019) 268–275]Ribeiro, J. M.; Correia, Filipe Costa; Salvador, Paulo Miguel Babo Cunha; Rebouta, L.; Alves, L. C.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Mendes, A.; Tavares, C. J.CorrigendaAcesso restrito UMinho
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