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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2006Effect of the matrix on the 1.5 microm photoluminescence of Er-doped silicon quantum dotsCerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Losurdo, M.; Monteiro, T.; Soares, Manuel Jorge; Peres, M.; Neves, A.; Alves, E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
2006Raman spectra and structural analysis in ZrOxNy thin filmsMoura, C.; Carvalho, P.; Vaz, F.; Cunha, L.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
3-Jan-2006Properties of MoNxOy thin films as a function of N/O ratioBarbosa, José Gusman; Cunha, L.; Rebouta, L.; Moura, C.; Vaz, F.; Carvalho, S.; Alves, E.; Le Bourhis, E.; Goudeau, Ph.; Rivière, J. P.ArtigoAcesso aberto
2006Study of the oxygen role in the photoluminescence of erbium doped nanocrystalline silicon embedded in a silicon amorphous matrixCerqueira, M. F.; Losurdo, M.; Monteiro, T.; Stepikhova, M.; Soares, M. J.; Peres, M.; Alves, E.; Conde, O.ArtigoAcesso aberto
2003Interrelation between microstructure and optical properties of erbium-doped nanocrystalline thin filmsLosurdo, M.; Cerqueira, M. F.; Alves, E.; Stepikhova, M.; Giangregorio, M. M.; Bruno, G.ArtigoAcesso aberto
2003Dielectric function of nanocrystalline silicon with few nanometers (<3 nm) grain sizeLosurdo, M.; Giangregorio, M. M.; Capezzuto, Pio; Bruno, G.; Cerqueira, M. F.; Alves, E.; Stepikhova, M.ArtigoAcesso aberto
2009ZnO thin films implanted with Al, Sb and P: optical, structural and electrical characterizationViseu, T. M. R.; Campos, J. Ayres de; Rolo, Anabela G.; Arôso, T. de Lacerda; Cerqueira, M. F.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2003Influence of crystals distribution on the photoluminescence properties of nanocrystalline silicon thin filmsCerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Losurdo, M.; Giangregorio, M. M.; Alves, E.; Monteiro, T.; Soares, Manuel J.; Boemare, C.ArtigoAcesso aberto
16-Set-2008Charging effects in CdSe nanocrystals embedded in SiO2 matrix produced by rf magnetron sputteringLevichev, S.; Chahboun, A.; Basa, P.; Rolo, Anabela G.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Horvath, Zs. J.; Conde, O.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2004The role of microstructure in luminescent properties of Er-doped nanocrystalline Si thin filmsStepikhova, M.; Cerqueira, M. F.; Losurdo, M.; Giangregorio, M. M.; Alves, E.; Monteiro, T.; Soares, Manuel JorgeArtigoAcesso aberto
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